Исследование эволюции структурных дефектов в монокристаллах ZnGeP2, выращенных методом Бриджмена
Представлены результаты исследований структурных дефектов в монокристалле ZnGeP2, выращенном методом Бриджмена в вертикальном варианте. Методом рентгеновской просвечивающей топографии на основе эффекта Бормана исследованы продольный срез и три поперечных среза монокристалла. Обнаружено различие структур дефектов в начальной, срединной и концевой частях кристалла. Приведены численные оценки поведения фронта кристаллизации в процессе выращивания кристалла. Получено хорошее соответствие численных оценок и результатов топографических исследований.
Ключевые слова:
метод Бриджмена, кристаллы, эффект Бормана, дифосфид цинка-германия, рентгеновская топография, включения, дислокации, кристаллизация, монокристаллы, выращивание, структурные дефекты, численные оценки
Авторы:
Г. А. Верозубова
Максим Михайлович Филиппов
А. И. Грибенюков
А. Ю. Трофимов
А. О. Окунев
В. А. Стащенко
Скачать bulletin_tpu-2012-321-2-26.pdf
